型號(hào)：GSZ-ST-21

方塊電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀測(cè)試儀

描述：該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成度穩(wěn)源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、度的點(diǎn)。

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方塊電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀測(cè)試儀型號(hào)：GSZ-ST-21

方塊電阻測(cè)試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成度穩(wěn)源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、度的點(diǎn)。

◆ 點(diǎn)：

采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定，低耗；

以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓示；

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

制之手握式探筆，形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 標(biāo)：

測(cè)量范圍	按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒源	測(cè)量過程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉(zhuǎn)換器	量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示；
測(cè)量不確定度	在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格	間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ
電源	9V疊層電池1節(jié)

產(chǎn)品名稱：度盤應(yīng)力儀應(yīng)力儀
產(chǎn)品型號(hào)：HA-WYL-3

度盤應(yīng)力儀應(yīng)力儀型號(hào)：HA-WYL-3

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