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方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。
方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產(chǎn)品,門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
方塊電阻測試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成度穩(wěn)源;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換,行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,從而提了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。